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工程探针
我们提供多种工程探针，能够满足不同类型的测试需求。射频、混合信号和直流探针可以有效应对各种复杂的探测环境，具有高度耐用性，超越客户的期望。
应用领域
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相关产品
Infinity Probe
• Infinity探针是业界性能最好的射频探针，具有卓越的测量精度和重复性
• 典型接触电阻 < 0.05 Ω（吕焊盘），< 0.02 Ω（金焊盘）
• 典型插入损耗为0.7 dB（直流到40 GHz/ GSG）
• 可测量缩小至25 x 35 微米焊盘（最佳情况），节省了宝贵的晶圆空间并减少了焊盘寄生电容
ACP Probe
• ACP探针具有良好的针尖可视性，便于准确定位在被测器件的焊盘上
• 适用不平整表面探测
• 提供稳定且可重复的变温测量
• 典型的探针寿命为500,000 次（金焊盘）
|Z| Probes
• Z探针具有超长使用寿命，超1,000,000次（铝焊盘）
• 1MX 技术确保低插入损耗、高隔离度和准确测量
• 高功率版本满足您的射频功率测量需求
T-Wave Probes
• T探针能够表征最高至1.1 THz器件
• 在140到220 GHz之间，典型插入损耗 < 1.5 dB
• 集成直流偏置和GPPO连接器
Multi-contact RF Probes
• 我们提供INFQ，ACP-Q, Unity, Multi-Z等不同系列的定制多触点射频探针
• INFQ探针可定制配置最多可支持 25 个接触点：射频、电源、接地、逻辑
• ACP-Q探针在单个探针中整合直流和射频功能：一个双探针或最多三个独立的射频探针。最多支持 9 个标准直流（其他数量可按需提供）
• Unity探针最多支持 12 个触点；任何触点可以是直流、电源、逻辑（最高 500 MHz）或射频（最高 20 GHz）
• Multi-|Z| 探针允许在一个探针上最多支持 35 个混合信号触点，并可选配板载组件
• ACP-Q
Multi-contact DC Probes
• 我们提供Eye-Pass, DCQ, WPH不同系列的定制多触点直流探针
• Eye-Pass探头具有多达12个触点，最大直流电流1A，最大直流电压50 V
• DCQ探头采用受控阻抗的陶瓷刀片针，以实现低噪声和高性能，最多可支持24个接触点
• WPH 探头具有多达12根陶瓷刀片镀镍钨针，并配备2×12方形引脚电缆接口
Calibration Substrate
• 我们提供的ISS和CSR系列校准片支持所有的高频探测应用
• ISS是业界唯一支持 LRRM方法的校准片
• CSR是专为Z探针设计的校准片
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